Diagnosis of the Technical Condition of High-Tech Complexes by Probabilistic Methods

Budashko, V. and Hvozdeva, Iryna and Shevchenko, Valerii and Sandler, Albert and Glazeva, Oksana (2022) Diagnosis of the Technical Condition of High-Tech Complexes by Probabilistic Methods. 2022 IEEE 16th International Conference on Advanced Trends in Radioelectron-ics, Telecommunications and Computer Engineering (TCSET), Slavske, 22-26 Feb. 2022, Ukraine. pp. 7-14.

[thumbnail of TCSET-2022 Proceedings-author-edition.pdf] Текст
TCSET-2022 Proceedings-author-edition.pdf

Завантажити (11MB)
Тип матеріалу: Наукова стаття
Тематики: J Транспорт та послуги > J5 Морський та внутрішній водний транспорт > J5.03 Експлуатація суднового електрообладнання і засобів автоматики
Розділ: Матеріали наукових заходів > Конференції
Розміщено: Оксана Глазєва
Дата розміщення: 14 Sep 2025 12:25
Останні зміни: 14 Sep 2025 12:25
URI: https://repository.onma.edu.ua/id/eprint/469

Зміни доступні лише персоналу репозиторія

Перегляд матеріалу
Перегляд матеріалу